蘇州邦鑫電子技術有限公司
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XTU-50A是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度較高的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。
被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
快速精準移動定位:高精密微型移動滑軌,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm
微焦X射線裝置:檢測面積可小于0.002mm²的樣品,可測試各微小的部件
高效率正比接收器:即使測試0.01mm²以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性
變焦裝置計算法:可對各種異形凹槽進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0-30mm
對焦方便:下照式設計可以快速定位對焦樣品
2. 涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰(Li)- 鈾(U)
3. 厚度最低檢出限:0.005μm
4. 成分最低檢出限:1ppm
5. 最小測量直徑0.2mm(最小測量面積0.03mm²)
6. 對焦距離:0-30mm
7. 樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸:550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量:45KG
10. XY軸工作臺移動范圍:50mm*50mm
11. XY軸工作臺最大承重:5KG