蘇州邦鑫電子技術有限公司
聯系人： 周先生
固 話： 0512-62150903
手 機： 189-1320-9609
地 址： 蘇州吳中區中山東路70號吳中科技創業園
型號:XAD-200多功能全自動
被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
微小樣品檢測：最小測量面積0.008mm²
變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm
自主研發的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量
先進的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm²探測器
X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置
上照式設計：實現對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩高效率測量
可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量
多準直器自動切換
2. 成分最低檢出限：1ppm
3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）
4. 涂鍍層最低檢出限：0.005μm
5. 最小測量直徑□0.1*0.3mm（最小測量面積0.03mm²）
標配：最小測量直徑0.3mm（最小測量面積0.07mm²）
6. 對焦距離：0-30mm
7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸：550mm*760mm*635mm
9. 儀器重量：100KG
10. XY軸工作臺移動范圍：100mm*150mm
11. XY軸工作臺最大承重：15KG
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